一种表面元素测试装置

专利摘要:
本实用新型公开了一种表面元素测试装置，包括壳体、盖板、侧板、底板和测试装置，所述壳体的上端设置有盖板，壳体的一侧通过第二凹槽设置有侧板，所述壳体和盖板和侧板的内部均设置有第一空腔，且第一空腔内部设置有铅层，所述壳体下端两侧均设置有第一凹槽，且第一凹槽内部设置有底板，且底板与壳体构成滑动结构，所述底板上设置有测试装置。该表面元素测试装置的外壳盖板和侧板内均设置有铅层，铅层能够有效阻挡住X射线，大大提高壳体防辐射的能力，保证实验人员身体，该装置设置有侧板和底板，当测试装置需要维修的时候，就可以抽出侧板，利用电机把底板推出来，然后对底板上的测试装置进行维修，简单方便。
公开号:CN214334743U
申请号:CN202120464698.8U
申请日:2021-03-04
公开日:2021-10-01
发明作者:王小进；谢正鹏；房兆华
申请人:Shanghai Feiyan Testing Technology Co ltd；
IPC主号:G01N23-2273

专利说明:
[n0001] 本实用新型属于表面元素测试技术领域，具体为一种表面元素测试装置。
[n0002] 表面分析是对固体表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分、结构和能态等分析的材料物理试验。也是一种利用分析手段，揭示材料及其制品的表面形貌、成分、结构或状态的技术，X射线光电子能谱分析是表面元素测试方法之一，X射线光电子能谱分析是以一定能量的X射线辐照气体分子或固体表面，发射出的光电子的动能与该电子原来所在的能级有关，记录并分析这些光电子能量可得到元素种类、化学状态和电荷分布等方面的信息，这种非破坏性分析方法，不仅可以分析导体、半导体，还可分析绝缘体，X射线光电子能谱分析所使用的X射线能够产生比较大的辐射，所以一般能谱分仪都设置有壳体，而且目前的一些壳体并没有很邮箱的防辐射的功能，而且当能谱分仪发生问题需要维修的时候拆卸非常麻烦。
[n0003] 针对现有技术存在的上述问题，本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种表面元素测试装置，以解决目前的能谱分析仪的壳体防辐射能力不足，壳体拆卸不方便，能谱分析仪维修不方便的问题。
[n0004] 为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：
[n0005] 一种表面元素测试装置，包括壳体、盖板、侧板、底板和测试装置，所述壳体的上端设置有盖板，壳体的一侧通过第二凹槽设置有侧板，所述壳体和盖板和侧板的内部均设置有第一空腔，且第一空腔内部设置有铅层，所述壳体下端两侧均设置有第一凹槽，且第一凹槽内部设置有底板，且底板与壳体构成滑动结构，所述底板上设置有测试装置，所述壳体的下端设置有支撑脚。
[n0006] 进一步的，所述第一凹槽前端内部的通过旋转轴设置有齿轮，且旋转轴的一端与电机相连接，且电机位于壳体的下方。
[n0007] 进一步的，所述底板的两侧均设置有齿，且该齿与齿轮相配合，底板与第一凹槽相配合。
[n0008] 进一步的，所述底板的面积小于壳体的横截面，且底板的一端设置有设置有扣槽。
[n0009] 进一步的，所述盖板通过合页与壳体相连接。
[n0010] 进一步的，所述盖板的前端设置有卡扣，壳体的前端设置有卡槽，且卡扣的位置与卡槽的位置相对应，且卡扣与卡槽大小相互配合。
[n0011] 有益效果：与现有技术相比，本申请具有以下优势：
[n0012] 该表面元素测试装置的外壳盖板和侧板内均设置有铅层，铅层能够有效阻挡住X射线，大大提高壳体防辐射的能力，保证实验人员身体，该装置设置有侧板和底板，当测试装置需要维修的时候，就可以抽出侧板，利用电机把底板推出来，然后对底板上的测试装置进行维修，简单方便。
[n0013] 图1是表面元素测试装置结构示意图；
[n0014] 图2是图1A处放大示意图；
[n0015] 图3是表面元素测试装置部分结构示意图。
[n0016] 下面结合附图对本实用新型做进一步的说明。
[n0017] 如图1、图2和图3所示，本申请的表面元素测试装置，包括壳体1、盖板2、侧板3、底板9和测试装置10，壳体1的上端设置有盖板2，盖板2打开就可以在测试装置10内加需要检测的物体，壳体1的一侧通过第二凹槽102设置有侧板3，侧板3是镶嵌在第二凹槽102内部，且第二凹槽102内部设置有防滑螺纹，提高摩擦力，防止侧板3随意晃动，壳体1和盖板2和侧板3的内部均设置有第一空腔4，且第一空腔4内部设置有铅层5，铅层能够有效阻挡住X射线，大大提高壳体防辐射的能力，保证实验人员身体，防止使用者被辐射到，壳体1下端两侧均设置有第一凹槽101，且第一凹槽101内部设置有底板9，且底板9与壳体1构成滑动结构，当侧板3抽出来以后，底板9就可以从第一凹槽101内部抽出来，方便维修，底板9上设置有测试装置10，测试装置10为现有的测试装置，壳体1的下端设置有支撑脚11，保证整体的稳定性。
[n0018] 第一凹槽101前端内部的通过旋转轴6设置有齿轮7，旋转轴6余壳体1连接的地方均设置有轴承，保证旋转轴6的正常旋转，且旋转轴6的一端与电机8相连接，电机8旋转，带动旋转轴6旋转，旋转轴6带动齿轮7旋转，齿轮7就会推动底板9移动，同时电机8为正反电机，保证底板9可进可出，电机8控制更加方便，更加省力，且电机8位于壳体1的下方，电机8高度小于支撑架11的高度，同时也不会影响盖板2。
[n0019] 底板9的两侧均设置有齿，且该齿与齿轮7相配合，底板9与第一凹槽101相配合，保证底板9在第一凹槽101的规范下进行滑动，简单方便。
[n0020] 底板9的面积小于壳体1的横截面，当插上侧板3的时候保证，底板9能够全部放置壳体1内部，在且底板9的一端设置有设置有扣槽，方便使用人员控制底板9。
[n0021] 盖板2通过合页与壳体1相连接，盖板2可以打开，可以关闭。
[n0022] 盖板2的前端设置有卡扣，壳体1的前端设置有卡槽，且卡扣的位置与卡槽的位置相对应，且卡扣与卡槽大小相互配合，当盖板2关闭的时候，保证整体的稳定性，防止盖板2意外打开，影响工作。
[n0023] 本实用新型提供了一种表面元素测试装置的思路及实施方法，具体应用途径很多，以上仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进，这些改进也应视为本实用新型的保护范围。

权利要求:
Claims (6)
[0001] 1.一种表面元素测试装置，其特征在于：包括壳体（1）、盖板（2）、侧板（3）、底板（9）和测试装置（10），所述壳体（1）的上端设置有盖板（2），壳体（1）的一侧通过第二凹槽（102）设置有侧板（3），所述壳体（1）和盖板（2）和侧板（3）的内部均设置有第一空腔（4），且第一空腔（4）内部设置有铅层（5），所述壳体（1）下端两侧均设置有第一凹槽（101），且第一凹槽（101）内部设置有底板（9），且底板（9）与壳体（1）构成滑动结构，所述底板（9）上设置有测试装置（10），所述壳体（1）的下端设置有支撑脚（11）。
[0002] 2.根据权利要求1所述的表面元素测试装置，其特征在于：所述第一凹槽（101）前端内部的通过旋转轴（6）设置有齿轮（7），且旋转轴（6）的一端与电机（8）相连接，且电机（8）位于壳体（1）的下方。
[0003] 3.根据权利要求1所述的表面元素测试装置，其特征在于：所述底板（9）的两侧均设置有齿，且该齿与齿轮（7）相配合，底板（9）与第一凹槽（101）相配合。
[0004] 4.根据权利要求3所述的表面元素测试装置，其特征在于：所述底板（9）的面积小于壳体（1）的横截面，且底板（9）的一端设置有扣槽。
[0005] 5.根据权利要求1所述的表面元素测试装置，其特征在于：所述盖板（2）通过合页与壳体（1）相连接。
[0006] 6.根据权利要求5所述的表面元素测试装置，其特征在于：所述盖板（2）的前端设置有卡扣，壳体（1）的前端设置有卡槽，且卡扣的位置与卡槽的位置相对应，且卡扣与卡槽大小相互配合。

类似技术:

---

公开号 | 公开日 | 专利标题

---

Yang et al.2018|Anionic and cationic redox and interfaces in batteries: Advances from soft X-ray absorption spectroscopy to resonant inelastic scattering

---

EP2940458B1|2020-06-10|Ct imaging system and method

---

Wu et al.2020|Dissociate lattice oxygen redox reactions from capacity and voltage drops of battery electrodes

---

Finegan et al.2019|Spatially resolving lithiation in silicon–graphite composite electrodes via in situ high-energy x-ray diffraction computed tomography

---

Finegan et al.2020|Spatial quantification of dynamic inter and intra particle crystallographic heterogeneities within lithium ion electrodes

---

Richardin et al.2011|Identification of different copper green pigments in renaissance paintings by cluster-TOF-SIMS imaging analysis

---

CN214334743U|2021-10-01|一种表面元素测试装置

---

Park et al.1993|Structural information on Y ions in C82 from EXAFS experiments

---

Sun et al.2019|Direct high-resolution mapping of electrocatalytic activity of semi-two-dimensional catalysts with single-edge sensitivity

---

Gilbert et al.2003|X-ray absorption spectroscopy of silicates for in situ, sub-micrometer mineral identification

---

Feng et al.2021|Highly Sensitive and Selective NiO/WO3 Composite Nanoparticles in Detecting H2S Biomarker of Halitosis

---

Cui et al.2017|Wetting induced oxidation of Pt-based nano catalysts revealed by in situ high energy resolution x-ray absorption spectroscopy

---

Harris et al.2012|Nondestructive volumetric 3-D chemical mapping of nickel-sulfur compounds at the nanoscale

---

CN1031768C|1996-05-08|多元素同位素x射线荧光分析仪

---

Dirken et al.1989|Crystal-field effects in rare earth compounds with the ThCr2Si2 structure

---

CN102914556A|2013-02-06|一种用于能量色散x荧光光谱仪的滤光片系统

---

Susac et al.2010|Chemical Fingerprint Associated with the Formation of Pt in the Membrane in PEM Fuel Cells

---

CN206945893U|2018-01-30|一种环氧氟化表层的电位衰减测量装置

---

Baechler et al.2002|The new cold neutron tomography set-up at SINQ

---

Braun et al.2002|Origin of chemical shift of manganese in lithium battery electrode materials—a comparison of hard and soft X-ray techniques

---

Zheng et al.2018|Photochemical synthesis of radiate titanium oxide microrods arrays supporting platinum nanoparticles for photoassisted electrooxidation of methanol

---

CN109557121A|2019-04-02|一种检测模块与检测设备

---

Torihata et al.2021|Activity for the ORR on Pt-Pd-Co ternary alloy electrodes is markedly affected by surface structure and composition

---

CN210401668U|2020-04-24|一种X、γ剂量探头

---

CN213122311U|2021-05-04|一种放射性检测用防辐射装置

同族专利:

---

公开号 | 公开日

---

引用文献:

---

公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题

---

法律状态:
2021-10-01| GR01| Patent grant|

---

2021-10-01| GR01| Patent grant|

优先权:

---

申请号 | 申请日 | 专利标题

---

CN202120464698.8U|CN214334743U|2021-03-04|2021-03-04|一种表面元素测试装置|CN202120464698.8U| CN214334743U|2021-03-04|2021-03-04|一种表面元素测试装置|